關於ADC取樣時間的問題?

時間 2021-11-04 23:49:34

1樓:芯芯子

注意不同電壓與取樣率的問題:2.4v以上,最大取樣率是1Msps,2.4v以下,最大取樣降低為500KSps, 低於2.2v,最大取樣率降低為200Ksps

知道了模組的原理後如何提高取樣的精度?

第一種方法是找到雜訊源,迴避這個雜訊源,比如在雜訊源穩定,或者消失的時候,進行取樣。就像電機驅動一樣,ADC不會在PWM切換時取樣訊號,因為PWM切換瞬間,雜訊是最大的。

第二種方法是無法迴避這個雜訊源,那麼我們的產品是有內部累加器的,比如進行16次取樣,讀取累加器高12位,就是16次取樣的平均值,晶元內部都已經整合這個累積,求平均的硬體演算法。

第三種方法是輸入端加乙個電容,進行去耦以及降低雜訊影響,再使用ADC進行取樣。

第四種方法是細節描述,比如在取樣的幾個cycle時,最好MCU的IO停止翻轉驅動,因為這樣會影響電源雜訊。 最重要的是:外部Vref的這個GPIO 在ADC取樣時,必須停止翻轉 ,因為共享乙個PAD,GPIO的翻轉會把雜訊引入ADC的Vref。

第五種方法是細節描述,比如取樣的的幾個cycle時,我們可以配置取樣時間,加大sample的時間,這樣可以更精確的取樣訊號。

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2樓:

VREF要接,具體接哪兒忘了

取樣時間和取樣間隔是兩個概念,F7的ADC工作在幾十k沒問題的

雜波是50hz工頻干擾,具體來說就是你的探頭變天線了,你把它短路到零會小很多

3樓:李智軍

1,取樣時間是ADC轉換的時間,越長越準確。這種實驗板不用設定那麼長的取樣時間。取樣時間應該小於取樣頻率的。設定對應暫存器即可。

2,Vref可以不用設,內部是直接連線到VDD的。

3,連到TPAD的原因你得查實驗板的說明。如果你要用這個通道採集訊號發生器的資料,應該斷開跳線。

4,輸出DAC不對可以有兩個原因。採集的不對或輸出的不對,你先直接輸出乙個三角波確認不是DAC的問題。再分析ADC的資料有沒有問題。定位問題再找原因。

5,干擾是肯定有的,除非你測小訊號,不然可以不管他先。

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