1樓：
thanks~
我接觸的主要是高速數字系統，對於RF類的話，不是特別熟悉。
基於題主的問題（作用和損壞影響？）我就從自己的理解回答吧，可能不特別切題。
作用（或者說選擇晶振的考量）：
1) 一般晶振（主要是有源晶振）在高速數字系統中扮演的都是PLL的輸入訊號，因此一般會考量它的
輸出電平類別（單端/差分，LVCMOS/LVDS/LVPECL/...)
頻率準確性，包括在不同溫度點和工作電壓點帶來的偏移%。
2) 較高頻率的晶振(>100Mhz)，一般是接入給FPGA/MCU/DDR的，因此會根據其datasheet考量：
rise/fall time, duty cycle
FPGA還可能會額外考量clock的相噪情況，一般會提供乙個不高於的基礎數值。
損壞影響：
說老實話，在不多的專案裡，失效情況目前還沒有碰到是來自於晶振的，可能因為產品並未做老化實驗且生命週期還不夠長。
所以對於晶振失效的現象資料完全沒有，從個人角度來猜，可能集中於：不起振，頻偏嚴重，電平不合規。但是，無論是哪個，因為晶振是時鐘鏈路的起點，所以debug起來應該還是比較容易定位的。
希望有幫助。
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