對於事先不知道構成的混合物是怎麼測定出其化學成分的?

時間 2022-01-21 06:50:40

1樓:陰雨江寧

對於化學專業的人,看形狀,色澤等直觀屬性,就已經有了大致的範圍,再根據特性,取樣本乙個個驗證就是了。

我不是搞化學分析的啊。

2樓:Dios Lin

這個測試方法有很多種。一般分為有損和無損兩種。

有損檢測,顧名思義,就是要對樣品進行破壞的。可以說多數檢測方法都是這種,取樣->分析。就這麼個流程。常見的,有標準的就是通用的化學分析法。

成分未知的情況可以使用氣象色譜,或者光譜分析的方式進行定性(如果是液態的樣品還可以考慮使用核磁共振,金屬樣品可以考慮使用能譜)分析元素和可能的分子組成,然後用標準的化學定量分析法定量。

PS這裡的光譜分析可以是無損

根據具體需求,還可以通過XPS(X射線光電子能譜分析)檢測表層原子的價態,用以推算表層的是否化合物還是單質原子。使用RBS(盧瑟福背散)分析體相化合物分布狀態(僅限5微公尺以下),PIXE(粒子誘發X射線螢光光譜)可以進行體成分分析(不超過50微公尺厚)。X射線/中子衍射可以分析材料的成分(僅限晶體材料),晶型,晶粒尺寸,晶粒取向乃至應力等資訊。

廣角X射線散射則可以用來分析樣品表層(可以薄至幾奈米)的晶體結構等結構資訊。此外,原子探針AP也可以用來分析樣品的原子構成(對於考古或者文物檢測來說,這玩意意義不大)。

至於無損檢測的方法,一般以反射或者吸收光譜為主。不同元素有其特徵譜線可以一定程度上定性分析。部分樣品體積合適的話,可以使用核磁共振的方式分析元素分布等資訊。

大氣環境下的電子探針也可以在一定程度上用於無損成分分析。

其他的方法我就不知道了。

ps,現在原子力顯微鏡AFM可以看到化學鍵,理論上可以用來分析表面化合物,但是實際上,對表面平整度要求極高的AFM幾乎不可能這樣用。

3樓:Heisenberg

請你參考《分析化學》武大第五版上下冊

你的問題太廣泛,精密分析也就GC-MS.LC-MS.MALDI-TOF. ICP-MS. 核磁等

首先你要確定你的物質的化學性質,有機還是無機,有無紫外螢光,含不含氫,然後做質譜與元素分析和氫譜,進而確定其結構

4樓:戴維

分析化學以及儀器分析,各種表徵方法

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